束插头高温测试第三方检测机构

束插头高温测试原理及目的：（高温运行、高温贮存）的目的是确定军民用设备、零部件在常温条件下储存和工作的储存、使用的适应性及耐久性。确认材料高温下的性能。

为能正确观察与验证产品在高温环境下之热效应，同时避免因湿度效应影响试验结果，标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。

高温条件下试件的失效模式 产品所使用零件、材料在高温时可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象。

   高温环境对线束插头的主要影响有：

a. 填充物和密封条软化或融化；

b. 润滑剂粘度降低，挥发加快，润滑作用减小；

c. 电子电路稳定性下降，绝缘损坏；

d. 加速高分子材料和绝缘材料老化，包括氧化、开裂、化学反应等；

e. 材料膨胀造成机械应力增大或磨损增大。

线束插头低温测试原理及目的：（低温运行、低温贮存）试验的目的是检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制，是确定军民用设备在低温条件下储存和工作的适应性及耐久性。低温下材料物理化学性能。标准中对于试验前处理、试验初始检测、样品安装、中间检测、试验后处理、升温速度、温度柜负载条件、被测物与温度柜体积比等均有规范要求。主要用于科研研究、医辽用品的保存、生物制品、远洋制品、电子元件、化工材料等特殊材料的低温实验及储存。

低温条件下试件的失效模式：产品所使用零件、材料在低温时可能发生龟裂、脆化、可动部卡死、特性改变等现象。

低温环境对设备的主要影响有：

a. 使材料发硬变脆；

b. 润滑剂粘度增加，流动能力降低，润滑作用减小；

c. 电子元器件性能发生变化；

d. 水冷凝结冰；

e. 密封件失效；

f. 材料收缩造成机械结构变化。